تطلق Yena أجهزة ليزر جديدة وتعرض مجموعة متنوعة من الحلول البصرية المبتكرة

أعلنت شركة الإلكترونيات الضوئية الألمانية العملاقة Jenner (Jenoptik) أنها ستعرض مكوناتها وأنظمتها البصرية المتميزة عالية الأداء في Photonics West، وهو أكبر معرض تجاري للإلكترونيات الضوئية في العالم، والذي سيعقد في سان فرانسيسكو بالولايات المتحدة الأمريكية الأسبوع المقبل.
لقد تم تصميم هذه المنتجات بعناية لتتناسب بشكل جيد مع الاتجاهات الحالية في مجال الطب والليزر والإلكترونيات الضوئية ومعدات أشباه الموصلات ونقل البيانات وتقنيات التصوير.
ليزر ديود أحادي الشريط جديد
قدمت YANA حزمة ليزر ديود مبدد حراري مفتوح جديدة "LS" للضخ البصري للجيل القادم من ليزر الحالة الصلبة. تحقق الحزمة زيادة كبيرة في مستويات طاقة الخرج البصري مقارنة بمعايير الصناعة CS.
على الرغم من اختلاف عامل الشكل قليلاً عن CS، إلا أن ليزر LS فريد من نوعه بطريقته الخاصة: حيث يعمل تصميم المشتت الحراري المفتوح مع التبريد على الوجهين على تحسين التبريد الموصل لشريط الليزر. يتيح ذلك لليزر LS إظهار أداء ممتاز بشكل أكبر مع طاقات خرج تزيد عن 150 واط عند 9xx نانومتر، مما يجعله مناسبًا بشكل خاص للتطبيقات المتقدمة في ليزر المضخة أو ليزر الصمام الثنائي المباشر (DDL).
تتشابه مجموعات Yehner's LS في عامل الشكل مع مجموعات CS ويمكن استخدامها لترقية مكونات (المضخة) الموجودة استنادًا إلى مجموعات CS لتحقيق زيادات مذهلة في طاقة الضخ الضوئية.
لمزيد من الدعم للإجراءات الجراحية المستقبلية الموجهة بالصور وتطبيقات التصوير التشخيصي المعتمد على المجهر الرقمي، قام Yehner بتطوير مصدر ضوء مبتكر قابل للضبط التدرجي (الأبيض) والذي يتيح إضاءة عالية السطوع في أي إعداد لوني تقريبًا.
يقوم مصدر الضوء بضبط التدرج اللوني عن طريق مزج ثلاث قنوات ألوان مستقلة أو أكثر، مما يتيح التصوير في نطاق واسع من ظروف الإضاءة الطيفية، وبالتالي تعزيز التمييز البصري للجراحين وتحسين خوارزميات معالجة الصور القائمة على الذكاء الاصطناعي في المستقبل. بالنسبة للإضاءة بالمنظار ذات الحد الأدنى من التدخل الجراحي، مثل التطبيقات في جراحة العيون، تضمن جودة الشعاع العالي لمصدر الضوء الأبيض هذا نطاق حجم يزيد عن 27 جيجا.
الحلول الإلكترونية الضوئية لاختبار الموافقة المسبقة عن علم على مستوى الرقاقة
من خلال تقديم بطاقة Optoelectronic UFO Detector®، تقدم Yana لمصنعي الرقائق وموردي معدات اختبار الرقائق حلاً ثوريًا مصممًا لتوفير الوقت وزيادة كفاءة اختبار التجميعات الإلكترونية والفوتونية.
تستخدم بطاقة الكاشف مفهوم اختبار بصري مبتكر يتيح إجراء اختبار متزامن للوظائف الإلكترونية والفوتونية على مستوى الرقاقة، خاصة في بيئات الإنتاج كبيرة الحجم. إنه فريد من نوعه لأنه يلغي الحاجة إلى المحاذاة النشطة، مما يجعل عملية الاختبار أسهل.
باستخدام تقنية الكابولي المتقدمة والدبوس الرأسي، يمكن تخصيص كل بطاقة UFO Probe® لتلبية احتياجات العملاء المحددة وتخطيطات الرقاقات. ويغطي نطاقًا واسعًا من الأطوال الموجية الضوئية (من 1260 نانومتر إلى 1625 نانومتر) لتطبيقات الاتصالات والبيانات ويدعم وظيفة تثبيت الاستقطاب للقنوات الضوئية الفردية أو جميعها.
من خلال دمج تكنولوجيا الدبوس الرأسي، نجحت Yena في تلبية الطلب المتزايد في السوق، وخاصة في مجال البصريات ذات التعبئة المشتركة. وهذا يضمن أن بطاقة UFO Probe® تتمتع بفائدة اقتصادية متميزة في حجم الإنتاج وبيئات الاختبار الآلية.